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形貌观察与测量

形貌观察与测量

金属表面粗糙度测量

Au/Ni（金/镍）厚度测量

电场放射型扫描显微镜（FE-SEM）

C-SAM观察（声学扫描显微镜）

地址：广州市南沙区市南路230号乐天云谷产业园2栋101

电话：18098907454/020-39004500

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3D-Xray

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简介

X射线断层扫描测量主要应用于非接触内外部无损三维几何尺寸测量、材料结构分析、缺陷检测、装配检查、逆向工程应用等。适用于塑料、橡胶、硅胶、纤维、轻金属等多种材料，面向几何计量、科研、注塑、铝压铸、电池、汽车、医疗器械、包装、电子消费品等行业领域。

1）IC层次

非破坏性测试，用于检测样品内部结构、金线键合情况；

2）PTH填锡量

非破坏性测试，用于检测PCBA焊接情况焊点开裂、气泡、桥接、少件、空焊等。

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应用实例

BGA焊接情况确认

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