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CAF测试/耐CAF测试(离子迁移测试)

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何为CAF?


    Conductive (传导())Anodic (阳极的)Filaments (细丝、细线)

    导电性细丝物=阳极性玻纤纱式漏电 (短路)

    玻璃纱束或纱束与树脂之细缝,造成两导体出现金属铜的迁移称为CAF,离子化金属向相反电极间移动(阴极向阳极生长)

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CAF测试主要评价是PCB基板耐性的一种评估手段,常规的测试有在线和非在线。

CAF的种类

    V (Hole to Hole)

    V (Layer to Layer)

    线路 V 线路 (Line to Line)(梳形电路)

    V (Hole to Line)

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测试方法


定义

将测试之位置焊上测试线,其测试板暴露在高温高湿的环境中,并施加偏压,观察绝缘劣化及绝缘电阻值的变化,以测试产品的绝缘阻值是否符合规格之试验。

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Cisco:65/85%RH/96H10V偏压、50V量测电压

Lenovo:50/80%RH/24H15V偏压、15V量测电压

Spec:>100MΩ (108Ω)


设备容量测试能力

1测试通道社内共计3300通道;

2测试电压范围1-1000V;

3测试频率可满足200ms测试频度

4监控品牌:Jras/IMV/ESPEC/Qualtec(社内开发)

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失效板分析&案例图片

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特殊案例——层(孔)偏

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