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一
何为CAF?
• Conductive (传导(性))、Anodic (阳极的)、Filaments (细丝、细线)
• 导电性细丝物=阳极性玻纤纱式漏电 (短路)
• 玻璃纱束或纱束与树脂之细缝,造成两导体出现金属铜的迁移称为CAF,离子化金属向相反电极间移动(阴极向阳极生长)
CAF测试主要评价是PCB基板耐性的一种评估手段,常规的测试有在线和非在线。
二
• 孔 V 孔 (Hole to Hole)
• 层 V 层 (Layer to Layer)
• 线路 V 线路 (Line to Line)(梳形电路)
• 孔 V 层 (Hole to Line)
三
定义
将测试之位置焊上测试线,其测试板暴露在高温高湿的环境中,并施加偏压,观察绝缘劣化及绝缘电阻值的变化,以测试产品的绝缘阻值是否符合规格之试验。
Cisco:65℃/85%RH/96H,10V偏压、50V量测电压
Lenovo:50℃/80%RH/24H,15V偏压、15V量测电压
Spec:>100MΩ (108Ω)
四
1测试通道社内共计3300通道;
2测试电压范围1-1000V;
3测试频率可满足200ms测试频度;
4监控品牌:Jras/IMV/ESPEC/Qualtec(社内开发)
五
特殊案例——层(孔)偏
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