离子迁移（CAF）失效分析_阔智科技(广州)有限公司

离子迁移（CAF）失效分析

简介

CAF失效，即离子迁移失效，电子整机产品中的基板与电子器件之间或线路之间由于存在线间分布电场，会使处于两极之间某些金属离子发生电场作用下的迁移，即阳离子向处在阴极状态的部位移动，阴离子会向处于阳极状态的部位移动。离子在PCB电路的这种电迁移有着极大危险，轻则引起设备故障，重则会因引起短路事故而导致火灾。

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